XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品

奧富森(sen)提供的XRF薄膜(mo)標準樣品綜(zong)合了多種高(gao)真空鍍膜(mo)技術進行制備；具有膜(mo)層(ceng)厚(hou)度控制精(jing)確，厚(hou)度均勻，性能(neng)穩定(ding)等優點，元素純度可(ke)達(da)99.9%以(yi)上；同時綜(zong)合ICP和XRF等檢測技術，可(ke)精(jing)確標定(ding)薄膜(mo)標樣的負載量。

《HJ 830-2017 環(huan)境空氣顆粒(li)物中無(wu)機元(yuan)素的測定(ding)波長色散(san)-X射(she)線(xian)熒(ying)光光譜(pu)法(fa)》以及《HJ 829-2017 環(huan)境空氣顆粒(li)物中無(wu)機元(yuan)素的測定(ding)能量(liang)色散(san)-X射(she)線(xian)熒(ying)光光譜(pu)法(fa)》均(jun)要求使用薄膜標(biao)樣建立儀器的工(gong)作曲線(xian)。

XRF薄膜標準樣(yang)品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五(wu)個(ge)負(fu)載量(liang)系列，其他負(fu)載量(liang)的產(chan)品可根據客戶實(shi)際需求定制。

可(ke)供應的(de)XRF薄膜標準樣(yang)品(pin)的(de)元素如下(xia)（可(ke)在表格內打√選擇樣(yang)品(pin)）：

元素

SL

VL

L

R

H

元素

SL

VL

L

R

H

Na (NaCl)

Co

Mg (MgF2)

Ni

Al

Cu

Si (SiO2)

Zn (ZnTe)

P (GaP)

As (GaAs)

S (CuSx)

Se

Cl (NaCl)

Sr (SrF2)

K (KCl)

Br (CsBr)

Ca (CaF2)

Cd (CdSe)

Sc (ScF3)

Ba (BaF2)

Ti

Pb

V

Sn

Cr

Sb

Mn

In

Fe

Mo

Ag

Hg (HgTe)

可提供超純鋁杯用(yong)于XRF測定大氣顆粒物的輔(fu)助設備，用(yong)以消除或減(jian)小合(he)(he)金材料樣品(pin)杯對樣品(pin)結(jie)果(guo)的影響；采(cai)用(yong)生態環境部標(biao)準樣品(pin)研究所提供的湖南重金屬污染標(biao)準土壤樣品(pin)，參(can)考NIST 2783標(biao)樣制備方式研制成功混合(he)(he)元素薄膜樣品(pin)，可用(yong)于XRF分析方法的驗證以及XRF實驗室日(ri)常(chang)質控工作。

XRF薄膜標(biao)準樣品的安裝形式：

1、 安裝環尺寸（厚度為1.5mm的亞克力玻璃）

圓形：

代碼

外徑(mm)

內徑(mm)

25

25

17

32

32

25

36

36

29

47

47

39

推薦36號尺寸。

方形：

50x50mm方形尺寸，內置?32mm的圓環，代(dai)碼(ma)50。

2、 支撐膜材(cai)料

代碼

支撐膜材料

備注

N

Nuclepore® polycarbonate

氣溶膠多孔膜

M6.3

6.3μm厚度麥拉膜(Mylar)

M3.5

3.5μm厚度麥拉膜(Mylar)

推薦M6.3型(xing)材料(liao)。

3、 鍍(du)膜方式：

代碼

鍍膜位置排列

A

安裝環-元(yuan)素膜(mo)-支(zhi)撐膜(mo)

B

元(yuan)素膜-支撐膜-安裝環

XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品